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外部調(diào)節(jié)探針臺(tái),磁吸式探針創(chuàng)新測(cè)試探針設(shè)計(jì)，尺寸小，適用空間要求低。底部通過磁鐵吸附在底板上，適用于功能材料、電路板、半導(dǎo)體等的測(cè)試。
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